二探針單晶硅及多晶硅測(cè)試儀 　型號(hào)：TC-GL-1

本儀器主要用于測(cè)量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況，以便硅材料的切割和加工。

    為適應(yīng)大規(guī)模集成電路的迅猛發(fā)展，特別是計(jì)算機(jī)芯片、內(nèi)存的發(fā)展，越來(lái)越多的使用到了大直徑、高純度、均勻度更高的單晶硅材料。目前，在、等先進(jìn)的工業(yè)，均采用了二探針?lè)?，使用二探針檢測(cè)儀來(lái)測(cè)量大直徑單晶硅的電阻率分布情況。

儀器符合ASTM 《“F391-77”關(guān)于二探針測(cè)量硅單晶試驗(yàn)方法》的標(biāo)準(zhǔn)，是一種新型的半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀，適合半導(dǎo)體材料廠和器件廠用于二探針?lè)ň_測(cè)量單晶硅和多晶硅半導(dǎo)體棒狀材料的體電阻率，從而進(jìn)一步判斷半導(dǎo)體材料的性能，指導(dǎo)和監(jiān)視工藝操作，也可以用來(lái)測(cè)量金屬材料的電阻，儀器具有測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便、造型美觀等特點(diǎn)。也可以配四探針測(cè)試頭作常規(guī)的四探針?lè)y(cè)量硅晶體材料。

    儀器分為儀表電氣控制箱、測(cè)試臺(tái)、探頭三部分，儀表電氣控制箱由高靈敏度直流數(shù)字電壓表、高抗干擾高隔離性能的電源變換裝置、高穩(wěn)定高精度恒流源和電氣控制部分組成。測(cè)量結(jié)果由大型LED數(shù)字顯示，零位穩(wěn)定、輸入阻抗高，并設(shè)有自校功能。在棒狀材料使用二探針?lè)y(cè)試時(shí)，具有系數(shù)修正功能，從面板輸入相應(yīng)的修正系數(shù)，可以直接讀出電阻率，使用方便。測(cè)試臺(tái)結(jié)構(gòu)新穎，造型美觀，可以方便地固定好大小任意尺寸的樣品，并可以作逐點(diǎn)選擇步進(jìn)測(cè)量，也可以自由選擇固定位置測(cè)量，電活動(dòng)自如，具備鎖定裝置，方便重復(fù)測(cè)量。另外還配置了二處記錄板和轉(zhuǎn)椅，測(cè)試探頭能自動(dòng)升降，探針為碳化鎢材料，配置寶石軸承，具有測(cè)量精度高、游移率小、耐磨、使用壽命長(zhǎng)特點(diǎn)。同時(shí)探頭壓力恒定并且可調(diào)整，以適合不同的材料。

儀器主要技術(shù)指標(biāo)：

1.可測(cè)硅材料尺寸：

     直徑Φ25~Φ150mm滿足ASTM F-397的技術(shù)要求。

     長(zhǎng)度：100~1100mm.

2.測(cè)量方式：軸向測(cè)量，每隔10mm測(cè)量一點(diǎn)。

3.測(cè)量電阻率范圍：10-3~103Ω-cm,可擴(kuò)展到105Ω-cm。

4.數(shù)字電壓表：

    （1）量    程：0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

    （2）測(cè)量誤差：±0.3%讀數(shù)±2字

    （3）輸入阻抗：0.2mV和2mV檔>106Ω

                  20mV檔及以上>108Ω

    （4）顯    示：31/2位LED數(shù)字顯示，范圍0~1999。

5.恒流源：

    （1）電流輸出：直流電流0~100mA連續(xù)可調(diào)。

    （2）量    程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

    （3）電流誤差：±0.3%讀數(shù)±2字

6.二探針測(cè)試裝置：

    （1）探針間距：4.77mm

    （2）探針機(jī)械游移率：0.3%

    （3）探針壓力：0~2kg可調(diào)

    （4）測(cè)試探頭自動(dòng)升降

7.二探針測(cè)試臺(tái)

    （1）測(cè)試硅單長(zhǎng)度：100-1100mm

    （2）測(cè)試點(diǎn)間距：10mm

    （3）測(cè)試臺(tái)有慢、快二種移動(dòng)速度，快速移動(dòng)速度為1000mm/分（均勻

手動(dòng)）

8.電源：交流220V±10%，50HZ±2HZ，消耗功率<150W

產(chǎn)品名稱：智能型環(huán)境測(cè)試儀 便攜式溫濕度大氣壓力計(jì) 產(chǎn)品型號(hào)：PTHA601

智能型環(huán)境測(cè)試儀 便攜式溫濕度大氣壓力計(jì)型號(hào)：PTHA601

一、用途： 
PTHA601智能型環(huán)境測(cè)試儀(溫濕度大氣壓力計(jì))是一種高穩(wěn)定多功能的測(cè)量?jī)x器，于30.00~110.0kPa范圍內(nèi)的環(huán)境大氣壓力、-30~+70℃的范圍內(nèi)的環(huán)境大氣溫度； 0~ RH范圍內(nèi)的探測(cè)點(diǎn)空氣濕度、-20~+60℃范圍內(nèi)的探測(cè)點(diǎn)空氣溫度的測(cè)量，是各環(huán)境監(jiān)測(cè)站、實(shí)驗(yàn)室、醫(yī)藥衛(wèi)生、建筑空調(diào)供暖、通風(fēng)、無(wú)塵室測(cè)試或標(biāo)定大氣壓力及溫濕度的理想儀器。 
二、特點(diǎn)： 
1. 便攜式、多功能、高分辨率、高精度、高穩(wěn)定性、數(shù)字顯示、直讀測(cè)量數(shù)據(jù)。 
2. 全觸摸按鍵、液晶顯示、中文面板指示測(cè)量功能、操作簡(jiǎn)便、直觀易讀、性價(jià)比高。 
3. 直讀大氣壓力、溫度；空氣溫度、濕度等測(cè)量數(shù)據(jù)及連接電腦輸出測(cè)量數(shù)據(jù)(選配)。 
4．采用*，帶校準(zhǔn)、帶溫補(bǔ)的高精度大氣壓力傳感器。 
5．采用瑞士*，帶校準(zhǔn)、帶溫補(bǔ)的溫濕度傳感器。 
6、采用飛利浦*低功耗微電腦處理器及其他優(yōu)良元器件。 
7．內(nèi)置一體化大氣壓力、大氣溫度探頭，可測(cè)量大氣壓力、大氣溫度(環(huán)境溫度)。 
8、外置一體化空氣濕度、空氣溫度探棒，可測(cè)量空氣溫度(風(fēng)溫)、空氣濕度、空氣露點(diǎn)。 
9．具有測(cè)量值溫度補(bǔ)償和智能數(shù)值穩(wěn)定功能。 
10．低電池電壓指示。 
11．使用一節(jié)9V疊層電池可連續(xù)工作50小時(shí)以上。 
三、技術(shù)指標(biāo)： 
工作范圍 
大氣壓力30.0~110.0kPa /內(nèi)置大氣壓力 
大氣溫度-20~+60℃ /內(nèi)置大氣溫度) 
空氣濕度0~ RH(溫濕度探棒) 
空氣濕溫度-30~70℃ (溫濕度探棒) 
分辨率 
大氣壓力0. 01kPa 
大氣溫度0.1℃ 
空氣濕度0.1%RH 
準(zhǔn)確度等級(jí) 
大氣壓力±0.3KPa(在30.0~110.0kPa內(nèi)) 
大氣溫度±2.0℃(在0~65℃內(nèi)) 
空氣濕度±3%RH(標(biāo)配) 
±2%RH(選配) 
注：以上是20~80%RH范圍內(nèi)的準(zhǔn)確度等級(jí) 
空氣濕溫度±0.4℃在25℃時(shí)，±0.9℃(0~40℃) 
電腦接口RS232(選配) 
波特率9600bd 
預(yù)熱時(shí)間5~15分鐘 
電源使用一節(jié)9V疊層電池 
 

二探針單晶硅及多晶硅測(cè)試儀

產(chǎn)品名稱：FSY-B型腐蝕率監(jiān)測(cè)儀 腐蝕率監(jiān)測(cè)儀 產(chǎn)品型號(hào)：FSY-B

FSY-B型腐蝕率監(jiān)測(cè)儀 腐蝕率監(jiān)測(cè)儀  型號(hào) FSY-B
 　一、概述 

　　　　FSY-B型腐蝕率監(jiān)測(cè)儀是應(yīng)用現(xiàn)代腐蝕電化學(xué)理論，采用了先進(jìn)的計(jì)算　　機(jī)技術(shù)，它是具有堅(jiān)固美觀的外型，操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)的腐蝕率測(cè)試儀器。它　　可廣泛運(yùn)用于金屬腐蝕控制研究和工業(yè)循環(huán)水系統(tǒng)現(xiàn)場(chǎng)腐蝕在線監(jiān)測(cè)。 
　　　 
二、FSY-B型腐蝕率監(jiān)測(cè)儀技術(shù)參數(shù) 
　　?。?、測(cè)量范圍：0.000～1.000mm/a； 
　　　２、精度：0.0001mm/a； 
　　?。?、工作電壓：220V±10﹪,50Hz±5﹪； 
　　　４、消耗功率：15W； 
　　?。?、外形尺寸：260×270×75（mm ）。 
　　　 
三、FSY-B型腐蝕率監(jiān)測(cè)儀功能特點(diǎn) 
　　　　自動(dòng)連續(xù)測(cè)量、記錄數(shù)據(jù)、繪制腐蝕、點(diǎn)蝕曲線和微機(jī)間的數(shù)據(jù)通訊等　　　功能，顯示和打印測(cè)試電材料的瞬時(shí)腐蝕率、點(diǎn)蝕、平均腐蝕率。儀器　　　配有RS485通訊口。 
　　　　使用該儀器觀察腐蝕的變化過(guò)程和趨勢(shì)是它主要的功能。